Reliability, testing and characterization of MEMS/MOEMS II - 27-29 January 2003, San Jose, California, USA
- Författare
- (Rajeshuni Ramesham, Danelle M. Tanner, chairs/editors)
- Genre
- Konferenspublikation
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Cop. 2003 | USA | 334 sidor. | 0-8194-4780-3 |